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ParticleX 全自動顆粒分析系統主要用于雜質或顆粒物的綜合評估，可以自動獲取大量顆粒的微觀形貌 和成分信息，具體包括：

• 顆粒粒度分布

• 顆粒形貌分析

• 雜質成分檢測

• 高分辨率成像（8 nm 分辨率）

ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎，結合自動控制系統以及強大的數據庫系 統，可以全自動對雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。

ParticleX 全自動顆粒分析系統

產品參數

電子顯微鏡：200,000 倍

探測器：高靈敏度四分割背散射電子探測器

燈絲材料：1,500 小時 CeB6 燈絲

分辨率：優于 10 nm

放置環境：采用專業防震設計，可擺放于普通實驗室或辦公室、廠房

加速電壓：4.8kV-20.5kV 連續可調

抽真空時間：小于 30 秒

能譜儀：可選配能譜儀

應用領域

· 全自動汽車零部件清潔度分析

ParticleX 可以監控清潔度并識別機動車流體系統中的污染源可降低現場故障率和保修成本。用于磨損碎屑表征的自動化解決方案有助于制造商在生產車間實現清潔度和質量控制的新標準。

· 全自動鋰電正負極雜質分析

ParticleX 可以全自動對正負極中的鐵類雜質顆粒進行快速識別、分析和分類統計， 整個過程無需人工參與。定量磁性雜質顆粒的形態、數量和種類，以此判定是哪個生產環節出了問題。

· 全自動鋼鐵夾雜物分析

ParticleX 為鋼鐵中夾雜物的分析提供了便捷、高效、可重現的分析工具。為鋼鐵材料的研發、生產、質量控制與評級提供了便利。

· 全自動 3D 打印金屬粉末評估

粉末的尺寸、形狀和化學性能對于粉末床的行成、熔池和微觀均質性可能會產生重大影響。ParticleX 可以全自動對顆粒或雜質進行快速識別、分析和分類統計，為客戶的研發以及生產提供快速、準確和可靠的定量數據支持。

復納科學儀器 (上海) 有限公司 (Phenom-China)，負責荷蘭飛納臺式掃描電鏡在中國市場的推廣和銷售，提供專業的技術支持和測試服務，飛納中國擁有專業的服務團隊，提供優化的解決方案；飛納中國提出飛納學校 （Phenom University）的概念，為用戶提供從掃描電鏡基礎理論到 Level 5 應用工程師的進階培訓，在上海、北京、廣州設立了測試中心和售后服務中心，目前飛納在中國已經擁有接近 1000 名用戶。